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:2003年1月10日 |
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:カジ サルワル アベディン |
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:特許第3388227号 |
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:「情報・通信」 |
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:NICT |
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:「検査・検出」 |
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高精度な光分散測定を大幅コストダウン |
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従来の光分散測定装置では、パルス遅延法や、位相シフト法、ベースバンドエーエムレスポンス法を用いて群速度を測定する際、広い周波数帯域をもつ光検出器や、オシロスコープ、ネットワークアナライザなどが必要であり、高価にならざるを得なかった。 |
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測定光を分岐し、一方は被測定物を通過する前に変調し、他方は通過した後で変調する。変調周波数をスキャンしながら光の平均出力を測定すると、干渉フリンジが見られ、光源の波長を変えると、フリンジがシフトすることを利用して、装置構成を簡易化する。 |
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●光分散測定装置
光ファイバー敷設現場や研究所において、光の群速度分散の測定、ファイバーの精確な長さ測定、測定対象までの精確な距離測定に有用。
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