---限定記号--- |
| 読み取り数値の信頼度を示す記号アルファベットでA,D,E,I,J,M,O,T,U,Zを使う。
説明記号との区別のため1番目につける |
| A | より小 限定記号としてのAはfbEsのみに用いる |
| D | より大 |
| E | より小 |
| I | 測定されなかった値を内そうで置き換えた |
| J | 正常波成分の値を異常波成分から求めた |
| M | 正常波成分と異常波成分が区別できない |
| O | 異常波成分を正常波成分から求めた |
| U | 数値が不正確か疑わしい |
| Z | 測定値をZ波成分から求めた |
---説明記号--- |
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A-H,K,L,N,O,R,V,W,Xを使う。限定記号との区別のため2番目につける
という規則がある。よって記号が一つだけのとき、それは説明記号である
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| A | F層のパラメータに使用された場合、低い所にあるEs層によって測定が影響を受けたことを表す。
(fbEsもF層のパラメータであることに注意)
Esパラメータに使用された場合、正常波と異常波の区別が明確でなくfminFxとftEsの比較などがら類推して決定したことを表す。
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| B | fmin付近の吸収によって測定が影響を受けたか不可能になった |
| C | 観測機の故障 |
| D | 周波数の上限を超えて測定が不可能、あるいは影響を受けた |
| E | 周波数の下限を超えたため測定が影響を受けた |
| F | 周波数スプレッドによって測定が不可能、あるいは影響を受けた |
| G | 電子密度が小さすぎるため正確な測
定ができない |
| H | 成層の出現によって測定が影響を受けたか不可能になった |
| K | 粒子E層が出現した |
| L | 層と層との境目に遅延による尖りがないため測定が影響を受けたか
不可能になった |
| N | 測定値が説明できないような状態 |
| O | 測定値が正常波成分である |
| Q | レンジ型スプレッドの出現 |
| R | 臨界周波数付近の吸収のため測定が影響を受けたか不可能になった |
| S | ノイズ |
| V | 測定値に影響を及ぼすようなフォークの出現 |
| W | トレースがイオノグラムの高さの範囲の上限を超えたため測定が影
響を受けたか不可能になった |
| X | 異常波成分を表す
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