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    イオノグラムの見方
    この図はイオノグラムにすべてのトレースが現れたとしたときの代表的なパター ンを描いたものです。実際のイオノグラムにはこれらのパターンのうちのいくつ かがその時々の条件(季節や時間)によって様々な形に現れます。
    foで始まる記号は、それぞれあとに続く層の 臨界周波数(その層の一番高い所)を示し、h'はそれぞれの層の見掛けの高さです。
    周波数を示すパラメータにはそれぞれO (正常波成分)とX (異常波成分)があり ますが、イオノグラムに常に両方が現れるわけではないので注意が必要です。O成分とX成分は常に国分寺、 沖縄で0.6MHz、稚内で0.7MHz離れていることがわかっています。(この値は電子ジャ イロ周波数の1/2)

    またイオノグラムから読み取れる情報は図のパラメータ以外にもいくつかあり、 下記のデータの読み方にて説明します。
    データの読み方
    情報通信研究機構( NICT )(旧CRL:通信総合研究所)では定常観測で得られたイオノグラムから上に示したような16のパラメータを 数値として取り出すことで各パラメータについての統計的な解析を行うことがで きます。これらのデータは全国の大学や研究機関で利用されていますし、同様の 観測が世界中で行われておりWDC(World Data Center) の一環として世界中から集められた電離層のデータを管理、提供しています。

    <各種電離層パラメータの見方>
    以下に上のイオノグラムの説明図には載ってはいませんが、 イオノグラムから読み取ることができる(読み取りデータには載っている)パラ メータの意味について説明します。 読み取りデータについてはデータベースの ページからダウンロードすることが出来ます。

      TYPE
      スポラディックE層の形態。low,flat,cusp type などがある。


      fbEs
      F領域のスポラディックE層による遮蔽がなくなる 周波数。言い換えるとF層に対してスポラディックE層が透明になる周波 数


      M3000F1, M3000F2
      F1層、F2層それぞれの電波伝搬可能周波数を 3000kmを標準距離として算出するパラメータ


      df1 - df4
      散乱が起きたときの散乱幅。df1, df2が正常波成分の 散乱の始まりと終り周波数、 df3, df4が異常波成分の散乱の最初と終り周波数の値
    • 限定記号と説明記号

      <限定記号と説明記号>

      イオノグラムからデータを読み取るときは、数値のほかに、そ の数値の信頼性などをより詳しく説明するためにアルファベットで限定記号と説明記号をつけることがあります。 これらの記号はURSI(国際電波科学連合) の基準に従っています。

       例 foF2: 116 [JR] ----> 11.6MHz 吸収により異常波成分から求めた
      J -> 限定記号 R -> 説明記号
       

      ---限定記号---
      読み取り数値の信頼度を示す記号アルファベットでA,D,E,I,J,M,O,T,U,Zを使う。 説明記号との区別のため1番目につける
      Aより小 限定記号としてのAはfbEsのみに用いる
      Dより大
      Eより小
      I測定されなかった値を内そうで置き換えた
      J正常波成分の値を異常波成分から求めた
      M正常波成分と異常波成分が区別できない
      O異常波成分を正常波成分から求めた
      U数値が不正確か疑わしい
      Z測定値をZ波成分から求めた

      ---説明記号---
      A-H,K,L,N,O,R,V,W,Xを使う。限定記号との区別のため2番目につける  という規則がある。よって記号が一つだけのとき、それは説明記号である
      AF層のパラメータに使用された場合、低い所にあるEs層によって測定が影響を受けたことを表す。 (fbEsもF層のパラメータであることに注意)
      Esパラメータに使用された場合、正常波と異常波の区別が明確でなくfminFxとftEsの比較などがら類推して決定したことを表す。
      Bfmin付近の吸収によって測定が影響を受けたか不可能になった
      C観測機の故障
      D周波数の上限を超えて測定が不可能、あるいは影響を受けた
      E周波数の下限を超えたため測定が影響を受けた
      F周波数スプレッドによって測定が不可能、あるいは影響を受けた
      G電子密度が小さすぎるため正確な測 定ができない
      H成層の出現によって測定が影響を受けたか不可能になった
      K粒子E層が出現した
      L層と層との境目に遅延による尖りがないため測定が影響を受けたか 不可能になった
      N測定値が説明できないような状態
      O測定値が正常波成分である
      Qレンジ型スプレッドの出現
      R臨界周波数付近の吸収のため測定が影響を受けたか不可能になった
      Sノイズ
      V測定値に影響を及ぼすようなフォークの出現
      Wトレースがイオノグラムの高さの範囲の上限を超えたため測定が影 響を受けたか不可能になった
      X異常波成分を表す

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